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系统概述：
R&S®R-Line 紧凑型测试暗室能在产品开发最初阶段消除无线终端产品的辐射问题，优化整体RF性能，从而避免了以后对产品原型的大量修改，节省了成本和时间，加快了产品推向市场的速度，提高了投资回报率。
R&S®R-Line 紧凑型射频测试暗室能在临界频率800MHZ至18GHZ范围进行测量，测量准确度比吸波暗室高出10倍。它能够轻松与研发实验室配套，以降低对基础实施和仪器的投资。
功能特点：
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早期进行RF性能和辐射发射测量
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测量准确度与电波暗室同样高，大幅降低设备和基础设施投资
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外形紧凑，用途广泛
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自动化测量，交钥匙工程方案，效率更高
技术参数：
射频技术规格/ 测量范围 |
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频段频率范围 |
800 MHz 至 18 GHz |
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极化方式 |
通过¸HL024A1 交叉对数周期天线进行水平和垂直极化 |
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现场场强均匀性 |
VSWR，典型值 2 dB，符合CISPR 16-1-4:2007 标准 |
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通信天线 |
800 MHz 至 6 GHz，圆形极化 |
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屏蔽效果屏蔽效能 |
> 95 dB，800 MHz 至 6 GHz; > 70 dB，6 GHz 至 18 GHz |
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机械数据 |
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外形尺寸(W×H×D) |
1700 mm×2250 mm×1640 mm (66.93 in×88.58 in×64.57 in) |
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门尺寸 (W×H) |
500 mm×1000 mm (19.68 in×39.37 in) |
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被测设备尺寸 (∅×H) |
最大值 330 mm×240 mm ( 最大值12.99 in×9.45 in) |
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重量 |
562 kg (1239 lb) |
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被测设备重量 |
最大值1 kg ( 最大值2.2 lb) |
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被测设备校准或连接射频通孔接口 |
2×N ( 母)，2×SMA ( 母) |